Introduction

   New Atomic Resolution Electron Microscopy for Materials Science

Electron Microscopy and Material Science Laboratory is aiming for opening up a new era in materials science and engineering by fusing advanced electron microscopy development and materials science research at a high level. Specifically, we are strongly promoting the development of new atomic resolution electron microscopy and the research of materials that are extremely important for society and industry such as metals, ceramics, devices, magnetic and organic materials, as two wheels of a cart. By developing a new electron microscopy that does not exist anywhere, we will create a new "eye" for materials, and use that "eye" to explore a sub-atomic scale world of materials. Such exciting research we are aiming!

April, 2020

Naoya Shibata

 

Topics

受賞

博士課程2年の大江君が日本顕微鏡学会第63回シンポジウムで優秀ポスター発表賞を受賞しました。

プレスリリース

東京大学・日本電子産学連携室設立 15 周年記念 次世代電子顕微鏡法社会連携講座設立記念シンポジウムの開催に関するプレスリリースが行われました。

論文

DPC STEM法による高分解能電磁場定量法に関するレビューを論文発表しました。

お知らせ

次世代電子顕微鏡法社会連携講座のウェブサイトが開設されました。

論文

STEM分割型検出器を用いた超高感度軽元素結像法を開発した成果について論文発表しました。

 

磁場フリー電子顕微鏡の開発

電磁場結像法の開発

STEM用分割型検出器の開発

電子デバイスの電場構造定量解析

超高感度STEM結像法の開発

多結晶磁石材料の微細組織設計

磁気スキルミオンの構造解析と制御

 

Members

教授

shibata [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

助教

seki [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

主任研究員

takao.matsumoto [at] sogo.t.u-tokyo.ac.jp

秘書

sugawara [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

博士課程2年

学振DC1, MERIT生

ooe [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

博士課程1年

学振DC1, MERIT生

toyama [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

修士課程2年

kubota [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

修士課程2年

MERIT生

yoshikimrk [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

修士課程1年

ssugiyama [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

修士課程1年

nishikawa [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

学部4年

iwata [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

学部4年

tabata [at] sigma.t.u-tokyo.ac.jp

 

Access

Yayoi 2-11-16, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0032, Japan

Room 315, Faculty of Engineering Bldg. 9, 

​TEL: 03-5841-0415

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