Review papers, books etc.

Review papers

  1. 柴田直哉「先進原子分解能電子顕微鏡による材料局所構造解析」日本原子力学会誌 61[10] 24-27 (2019).

  2. 柴田直哉「DPC STEMの原理と応用」顕微鏡, 54, 77-84 (2019).

  3. 柴田直哉「DPC STEMによる局所電磁場の直接観察」まてりあ58[8] 433-439(2019).

  4. 柴田直哉「原子内部電場の直接観察」応用物理, 87, 828-832 (2018).

  5. 近藤隼、栃木栄太、柴田直哉、幾原雄一「透過型電子顕微鏡応力印加その場観察法-TEMナノインデンテーション法のセラミックスへの応用-」セラミックス, 52, 154-156(2017).

  6. 関岳人、Sánchez-Santolino Gabriel、石川亮、幾原雄一、柴田直哉「原子分解能微分位相コントラストSTEM法の理論」顕微鏡, 52, 8-12 (2017).

  7. 柴田直哉「DPC STEM法による局所電場・磁場分布の直接観察と材料研究応用」セラミックス, 52, 87-90(2017).

  8. 柴田直哉「多分割検出器を用いた原子分解能走査型透過電子顕微鏡観察」Isotope News, No.737, 17-20 (2015).

  9. 柴田直哉「観察技術(電子顕微鏡)のコツ」応用物理, 84, 754-757 (2015).

  10. 石川亮、柴田直哉、大場史康、谷口尚、Scott D. Findlay、田中功、幾原雄一「希土類添加cBN結晶中に形成された複合点欠陥の局所構造解析」NEW DIAMOND, 30, 13-15 (2014).

  11. 柴田直哉, S.D. Findlay, 幾原雄一「低角散乱電子を用いた軽元素の実空間観察」日本結晶学会誌, 55, 362-368 (2013).

  12. 柴田直哉、幾原雄一「STEMによる材料界面の原子レベル観察」表面科学, 34, 253-258 (2013).

  13. 柴田直哉, S.D. Findlay, 幾原雄一「電子顕微鏡による原子レベルの電場観察」固体物理, 48, 55-63 (2013).

  14. 藤平哲也、柴田直哉、幾原雄一「電子顕微鏡が目指す微小の世界」検査技術、18, 14-20 (2013).

  15. 柴田直哉, S.D. Findlay, 幾原雄一「原子レベルの電場観察」セラミックス, 48, 128-130(2013).

  16. 柴田直哉「多分割検出による原子分解能STEMの新しい展開」顕微鏡, 47, 157-162 (2012).

  17. 柴田直哉,「ABF STEM法を用いた材料界面研究」セラミックス, 47, 485-488(2012).

  18. 柴田直哉、フィンドレイ スコット、幾原雄一「環状明視野(ABF)STEM法の理論と応用」顕微鏡, 46, 55-60 (2011).

  19. 柴田直哉、フィンドレイ スコット、幾原雄一「埋もれた界面中原子1個の走査型透過電子顕微鏡直接観察」J. Vac. Soc. jpn.,54, 270-2274 (2011). 

  20. 柴田直哉、幾原雄一「TiO2表面構造及びAu/TiO2ナノ界面の原子構造観察」セラミックデータブック, vol 37.(2009) 134-137.

  21. 柴田直哉、幾原雄一「走査透過型電子顕微鏡 -材料界面・表面評価の新展開」セラミックス, (2009)44[9]673-678.

  22. 幾原雄一、柴田直哉、溝口照康、阿部英司「ナノ機能元素の超微細構造解析」まてりあ(2009) 48[6]284-289.

  23. 幾原雄一、柴田直哉、溝口照康、山本剛久「走査型透過電子顕微鏡法による界面・表面の研究」顕微鏡(2009)44[1]65-68.

  24. 柴田直哉、幾原雄一「先進電子顕微鏡観察によるセラミックス粒界の解明と設計」マテリアルインテグレーション(2007)20[10]2-6.

  25. 柴田直哉「収差補正STEMによる材料界面ドーパント原子直接観察」 顕微鏡(2006)41[3]208-211.1.

  26. 柴田直哉、幾原雄一「ジルコニアΣ3粒界のファセット構造」日本金属学会報 まてりあ (2005)44[12]963.

  27. Oleg Lourie、宮森康次、柴田直哉「SPM-TEMホルダーを用いたTEMその場ナノ計測」セラミックス, (2005)40[11]953-957.

  28. 柴田直哉「収差補正STEMによるセラミック材料界面の局所構造解析」セラミックス, (2005)40[11]914-917.

  29. 柴田直哉、山本剛久、幾原雄一「窒化ケイ素粒界アモルファス研究の最新動向」セラミックデータブック, vol 33.(2005) 99-101.

  30. 柴田直哉「最新走査型透過電子顕微鏡法による材料界面研究の新展開」日本金属学会報 まてりあ (2005)44[10]848.

  31. 柴田直哉「オークリッジ国立研究所滞在記 Ultimate Resolution in Materials Science」日本金属学会報 まてりあ (2003)42[10]743.

Books

  1.  N. Shibata, S.D. Findlay, Y. Ikuhara and N. Tanaka(分担執筆)"Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials : Basics of Imaging and Analysis,” Imperial College Press, 109-175(2014).

  2. 2. N. Shibata and Y. Ikuhara (分担執筆)”New Research Trends of Fluorite-Based Oxide Materials: From Basic Chemistry and Materials Science to Engineering Applications,” Nova Science Publishers, 165-192 (2014)

  3. 3.Y. Ikuhara and N. Shibata (分担執筆)"Scanning Transmission Electron Microscopy -Imaging and Analysis-", Springer-Verlag 467-521 (2011).

  4. 4. 柴田直哉、幾原雄一(分担執筆)「窒化ケイ素系セラミックス新材料 最近の展開」日本学術振興会第124委員会編、内田老鶴圃272-288 (2009).

  5. 5. 柴田直哉、S.J. Pennycook「窒化ケイ素セラミックスの粒界アモルファス超微細構造」材料開発のための顕微鏡法と応用写真集、日本金属学会(2006)214.

  6. 6.  柴田直哉(分担執筆)「失敗から学ぶ電子顕微鏡試料作製技法Q&A」朝倉健太郎、平坂雅夫、為我井晴子共編、アグネ承風社(2006)194.

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