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​研究設備

​電子顕微鏡

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JEM-ARM200CF base MARS
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JEM-2100HC
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JEM-ARM300F GRAND ARM
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JEM-2010HC
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JEM-2100F

​集束イオンビーム装置

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Helios G5

©2020 by 電子顕微鏡材料学研究室

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