Invited talks

  1. 柴田直哉「先進DPC STEM法による材料局所構造解析」ASTEC2020、東京ビッグサイト、2020. 1. 30.

  2. 柴田直哉「DPC STEM法の基礎と応用」第12回日本電子TEMユーザーズミーティング、東京、2019.12.20.

  3. 柴田直哉「原子分解能電磁場計測電子顕微鏡法の開発と応用」第61回日本顕微鏡学会九州支部総会・学術講演会、九州工業大学、2019.12.14.

  4. N. Shibata, “Advanced atomic resolution STEM for electromagnetic field imaging,” ICAE 2019, Jeju, Korea, 2019.11.6.

  5. N. Shibata, “Development and application of electromagnetic field imaging STEM,” PACRIM 13, Okinawa, Japan, 2019. 10. 29.

  6. N. Shibata, “Development of magnetic field free atomic-resolution STEM,” PACRIM 13, Okinawa, Japan, 2019. 10. 29.

  7. N. Shibata, “Advanced electron microscopy for atomic-scale electromagnetic field imaging,” ALC 19, Kyoto, Japan, 2019. 10. 24.

  8. 柴田直哉「先進原子分解能STEMの開発と材料局所構造解析」日本セラミックス協会関西支部、第22回若手フォーラム、大阪、2019.10.18.

  9. 柴田直哉「DPC STEM法による材料局所電磁場解析」日本金属学会2019年秋期大会、岡山、2019.9.11.

  10. N. Shibata, “Atomic-resolution electromagnetic field imaging by DPC STEM,” FEMMS2019, Ashville, USA, 2019. 9 .2.

  11. N. Shibata, “The challenge of electron microscopy Seeing atoms and fields in a magnetic field free environment,” Chalmers U of Technology, Gothenberg, Sweden, 2019. 8. 15.

  12. N. Shibata, “Differential phase contrast scanning transmission electron microscopy at atomic resolution,” Microscopy & Microanalysis 2019, Portland, USA, 2019. 8. 6.

  13. N. Shibata, “Magnetic-field-free atomic resolution STEM,” NEXTEM, Pre-meeting congress, Microscopy & Microanalysis 2019, Portland, USA, 2019. 8. 4.

  14. 柴田直哉「電子顕微鏡の挑戦 -原子分解能の先へ-」日立ハイテクノロジーズセミナー、那珂事業所、茨城、2019.6.21.

  15. N. Shibata, “Towards sub-atomic resolution electron microscopy,” German-Japan Joint Seminar on Advanced Electron Microscopy and Its Application, Naoya, Japan, 2019. 6. 18.

  16. 柴田直哉「原子分解能磁場フリー電子顕微鏡(MARS)の開発と応用」日本顕微鏡学会第75回学術講演会、名古屋、2019.6.17.

  17. N. Shibata, “Advanced DPC STEM for materials research,” AMTC6, Nagoya, Japan, 2019. 6. 14.

  18. N. Shibata, “Advanced atomic-resolution STEM for real-space electromagnetic field imaging,” KSM annual meeting, Gangwon, Korea, 2019. 5.24.

  19. N. Shibata, “Seeing inside atoms Beyond atomic resolution electron microscopy,” INCP 2019, Tagaytav, Philippines, 2019.5.28.

  20. 柴田直哉「最先端STEMによる材料局所構造解析」日立金属セミナー、熊谷、2019.4.15.

  21. N. Shibata, “Atomic-scale chemical analysis at ceramic interfaces by advanced scanning transmission electron microscopy,” MRS spring meeting 2019, Phoenix, USA, 2019. 4. 24.

  22. 柴田直哉「電子顕微鏡の挑戦 -原子分解能の先へ-」日立ハイテクノロジーズセミナー、那珂事業所、茨城、2019.6.21.

  23. N. Shibata, “Direct electromagnetic field imaging in materials and devices by DPC STEM,” MST 36, Rama Garden Hotel, Bangkok, Thailand, 2019.3.28.

  24. 柴田直哉「原子分解能電磁場計測電子顕微鏡の開発と材料界面研究」日本セラミックス協会2019年年会、工学院大学、2019.3.24.

  25. 柴田直哉「先進原子分解能電子顕微鏡による材料局所電磁場解析」日本原子力学会 2019年春の年会、茨城大学、2019.3.21.

  26. 柴田直哉「先進原子分解能電子顕微鏡による電磁場観察の現状と展望」第4回分析TEMユーザーズミーティング、北海道大学、2019.3.8.

  27. N. Shibata, “Towards subatomic-resolution electron microscopy –Can we observe inside of atoms?-,” International workshop of ultra high-resolution on microscopy, Hitachi, Hatoyama. 2019.2.22.

  28. N. Shibata, “Towards subatomic-resolution electron microscopy,” CEMS-RIKEN, RIKEN, 2018.12.12.

  29. N. Shibata, “Development of subatomic-resolution electron microscopy for advanced materials research,” The 2nd workshop on functional materials science, Busan, South Korea, 2018.10.23.

  30. N. Shibata, “Atomic-scale understanding of ceramic interfaces by advanced electron microscopy,” MS&T 18, Columbus, U.S.A., 2018.10.15.

  31. N. Shibata, “Direct electromagnetic field imaging of interfaces by advanced STEM,” iWOE 25, Les Diablerets, Switzerland, 2018.10.02.

  32. 柴田直哉「先進原子分解能STEM法による材料局所電磁場解析」日本金属学会秋期大会、東北大学、2018.9.19.

  33. N. Shibata, “Direct electromagnetic field imaging of materials by advanced differential phase contrast STEM,” 19th International Microscopy Congress, Sydney, Australia, 2018.9.11.

  34. N. Shibata, “Advanced DPC STEM for materials research,” Workshop on STEM with advanced detector, Grand Cleveland Winery, Melbourne, 2018.9.5.

  35. N. Shibata, “Aberration-corrected differential phase contrast STEM,” EMSI 2018, Bhubaneswar, India, 2018.7.19.

  36. N. Shibata, “Direct electromagnetic field imaging of materials and devices by atomic-resolution STEM,” NCTC TEM/STEM Seminar and workshop, Bangkok, Thailand, 2018.7.16.

  37. 柴田直哉「先進電子顕微鏡法を用いたセラミックス界面の原子・電子構造解析」フルラス・岡崎記念会2018年度講演会、東京工業大学・大岡山キャンパス、2018.6.22.

  38. 柴田直哉「先進DPC STEM法による材料電磁場解析」実用顕微評価技術セミナー2018、日本表面真空学会、2018.6.21.

  39. N. Shibata, “Development of advanced scanning transmission electron microscopy for materials research,” JAFOE 2018, Tsukuba, Japan, 2018.6.17.

  40. N. Shibata, “Aberration-corrected DPC STEM for materials research,” Grand opening of IMRI and ISAMS-1, UC Irvine, CA, U.S.A., 2018.6.6.

  41. N. Shibata, “Advanced differential phase contrast scanning transmission electron microscopy for materials research,” 2018 International Workshop on STEM, UCAS, Beijing, China, 2018.5.12.

  42. N. Shibata, “Atomic-resolution differential phase contrast scanning transmission electron microscopy for materials research,” MRS spring meeting 2018, Phoenix, USA, 2018. 4. 4.

  43. 柴田直哉「原子分解能電磁場観察STEM法の開発と応用」第65回応用物理学会春季学術講演会、早稲田大学、2018.3.19.

  44. N. Shibata, “Advanced atomic-resolution electron microscopy for real-space electromagnetic field imaging,” Symposium on Frontier Researches of Functional Oxide Devices and Materials,” EDTM 2018, Kobe, Japan, 2018. 3. 16.

  45. N. Shibata, “Direct electromagnetic field imaging of materials by atomic-resolution STEM,” Colloquium at the Department of Physics, National Taiwan University, Taipei, Taiwan, 2017. 12. 19.

  46. N. Shibata, “Direct electromagnetic field imaging of materials by atomic-resolution STEM,” Seminar at the Department of Materials Science and Engineering, National Taiwan University, Taipei, Taiwan, 2017. 12. 18.

  47. 柴田直哉「DPC STEMの現状と展望」JFCCセミナー、名古屋、2017.12.8

  48. 柴田直哉「原子分解能電子顕微鏡の将来展望」金属材料研究所共同利用・共同研究ワークショップ「物性物理分野における協働展開」東北大学、仙台、2017.11.24.

  49. 柴田直哉「高速分割型検出器を用いたDPC STEM法の現状と展望」NIMS 4D-STEMセミナー、NIMS、つくば、2017.11.20.

  50. N. Shibata, “Atom-resolved differential phase contrast scanning transmission electron microscopy,” IAMNano 2017, Singapore, 2017. 11. 14.

  51. 柴田直哉「微分位相コントラスト(DPC)STEMによる局所電場・磁場観察」学振第133委員会、第238回研究会、東京理科大学、2017.10.28.

  52. 柴田直哉「先進原子分解能STEMによる局所材料解析」溶接学会 第119回マイクロ接合研究委員会、大阪大学東京ブランチ、東京、2017.9.29.

  53. 柴田直哉「STEM法によるナノ構造評価と今後の展開」村田製作所野洲事業所、滋賀、2017.9.20.

  54. 柴田直哉「原子分解能電子顕微鏡の新展開」分子研オープンセミナー、分子科学研究所、岡崎、2017.8.4.

  55. 柴田直哉「最先端走査型透過電子顕微鏡(STEM)を用いた材料界面解析」応用物質化学セミナー、名古屋大学、名古屋、2017.8.2.

  56. 柴田直哉「DPC STEM電磁場解析のデバイス解析への応用」SDRJ Metrology WG.、名古屋大学・東京オフィス、2017.7.28.

  57. N. Shibata, “Aberration-corrected differential phase contrast electron microscopy,” 73rd JSM annual meeting, Sapporo Convention Center, 2017.5.31.

  58. N. Shibata, “DPC STEM characterization of ceramic interfaces,” PACRIM12, Waikoloa, Hawaii, U.S.A., 2017. 5. 25.

  59. N. Shibata, “Aberration-corrected differential phase contrast scanning transmission electron microscopy,” EDGE 2017, Okuma private beach & resort, Okinawa, Japan, 2017.5.18.

  60. N. Shibata, “Development of aberration-corrected differential phase-contrast STEM for materials science,” UT-Chalmers Workshop 2017, The University of Tokyo, Tokyo, 2017.3.30.

  61. N. Shibata, “Differential phase-contrast scanning transmission electron microscopy imaging of materials and devices,” Advanced microscopy workshop, Monash University, Australia, 2017.3.21.

  62. 柴田直哉「DPC STEMを用いた材料解析」ナノテク産業化基盤技術の有効利用および高度化と融合を目指した研究会2017、九州大学 伊都ゲストハウス、福岡、2017.3.10.

  63. 柴田直哉「原子レベルからのセラミックス界面構造解析」JFCAイブニングセミナー、(一社)日本ファインセラミックス協会、2017.2.22.

  64. N. Shibata, “Differential phase-contrast imaging using aberration-corrected scanning transmission electron microscopy,” Electron Holography Workshop 2017, The center for exploratory research, Hitachi Ltd., Saitama, 2017.2.15.

  65. 柴田直哉「多分割検出器を用いた原子分解能微分位相コントラストSTEM法の開発」日本学術振興会 荷電粒子ビームの工業への応用 第132委員会、弘済会館、2017.1.13.

  66. N. Shibata, “Atomic-resolution differential phase contrast STEM using high speed segmented detector,” MRS fall meeting 2016, Boston, USA, 2016. 11. 28.

  67. 柴田直哉 「DPC STEM法による材料解析」日本顕微鏡学会第59回シンポジウム、帝京平成大学 池袋キャンパス, 2016. 11. 18.

  68. N. Shibata, “Atomic-resolution differential phase contrast scanning transmission electron microscopy,” IAMNano 2016, Port Elizabeth, SA, 2016. 11. 8.

  69. N. Shibata, “Electromagnetic field imaging of materials by differential phase contrast scanning transmission electron microscopy,” The University of the Witwartersrand, Johannesburg, SA, 2016. 11. 4.

  70. 柴田直哉「最先端STEM法を用いたナノ機能元素構造定量解析」日本金属学会 秋期講演大会、大阪大学豊中キャンパス、大阪、2016. 9. 21.

  71. 柴田直哉「分割検出STEM法による材料界面解析」日本物理学会 2016年秋季大会、金沢大学角間キャンパス、石川、2016. 9. 14.

  72. 柴田直哉「最新STEM法による材料界面構造解析」日亜化学セミナー、徳島、2016.8.19.

  73. 柴田直哉「電子顕微鏡の挑戦 –ミクロの世界はどこまで見えるのか–」東進ハイスクール 大学学部研究会、TKPガーデンシティ品川、2016.8.5.

  74. N. Shibata, “Advanced STEM imaging of materials by segmented-type annular detector,” PRICM9, Kyoto, Japan, 2016.8.3.

  75. N. Shibata, S.D. Findlay, T. Matsumoto, T. Seki, G.S. Santolino, Y. Kohno, H. Sawada, H. Sasaki, Y.G. So, R. Ishikawa and Y. Ikuhara, “Direct electromagnetic structure observation by aberration-corrected differential phase contrast scanning transmission electron microscopy,” Microscopy and Microanalysis 2016, Columbus, Ohio, U.S.A., 2016.7.26.

  76. N. Shibata, “Electromagnetic field imaging of materials by scanning transmission electron microscopy,” RCBJSF-IWRF 2016, Matsue, Shimane, 2016.6.21.

  77. N. Shibata, “Development of atomic-resolution scanning transmission electron microscopy for ceramic interfaces,” APMC11, Puket, Thailand, 2016.5.26.

  78. 柴田直哉「先進原子分解能STEMによる局所材料解析」AZtechセミナー2016、オックスフォード・インスツルメンツ株式会社 セミナールーム、東京、2016.5.20.

  79. 柴田直哉「先進原子分解能STEMによる材料界面解析」学振第133委員会、第232回研究会(第1分科会)-最先端透過電子顕微鏡の新展開―、東京大学、2016.5.14.

  80. N. Shibata, “Direct electric field imaging of materials by differential phase contrast STEM,” AMTC 5, WINC AICHI, Nagoya, 2016.5.11.

  81. 柴田直哉「先進STEM法による材料局所電磁場の実空間観察」第63回応用物理学会、東京工業大学、2016.3.20.

  82. 柴田直哉「DPC STEM法による材料中局所電磁場の直接観察」第16回P&A解析研究会、大阪大学東京オフィス 、2016.3.18.

  83. 柴田直哉「先進電子顕微鏡法による材料界面解析の新展開」2015年度ガラス分析研究討論会、日本セラミックス協会 2016. 2. 19.

  84. N. Shibata, “Development of advanced scanning transmission electron microscopy for material science research,” 1st Japan-China-Korea trilateral nanotechnology joint forum, nano tech 2016, Tokyo Bigsight, 2016.1.27.

  85. N. Shibata, “Advanced STEM imaging using SAAF detector,” EMAC2 Young Satellite Meeting, Awaji, Hyogo, 2015.11.27.

  86. 柴田直哉「DPC STEM法による材料中局所電磁場の直接観察」第35回ナノテスティングシンポジウム、千里ライフサイエンスセンター、大阪、2015.11.6.

  87. N. Shibata, “Direct electromagnetic field imaging in materials by scanning transmission electron microscopy,” CEMS Topical Meeting on Oxide Interfaces 2015, RIKEN, Saitama, 2015.11.6.

  88. 柴田直哉「最先端原子分解能電子顕微鏡の世界」国立大学フェスタ2015 文部科学省ナノテクノロジー・プラットフォーム事業 東京大学微細加工&微構造解析拠点合同特別講演会、2015.11.4.

  89. N. Shibata, “Electromagnetic field imaging inside materials by scanning transmission electron microscopy,” MS&T 2015, Columbus OH, 2015.10.7.

  90. 柴田直哉「最先端電子顕微鏡の世界-原子の直接観察、そしてその先へ-」第5回フロンティアサロン永瀬賞受賞記念、高校生のための特別講義「サイエンスセミナー」帝国ホテル、東京、2015. 9. 25.

  91. N. Shibata, “Imaging of electromagnetic fields at interfaces by scanning transmission electron microscopy,” FEMMS2015, Tahoe CA, 2015.9.18.

  92. 柴田直哉「先進原子分解能電子顕微鏡法の開発と材料界面研究への展開」COMPO研究会、2015. 9. 7.

  93. 柴田直哉「原子を直接見る顕微鏡-最先端電子顕微鏡の世界-」日本表面科学会関東支部第1回市民講座、東京大学、東京、2015. 8.1.

  94. 柴田直哉「分割検出型STEMによる材料局所電磁場観察」マルチプローブ融合利用による新奇強誘電体材料の物性解明 第二回研究会、2015. 7. 31.

  95. N. Shibata, “Differential phase contrast STEM for materials characterization,” NCIRF EMA 2015, Seoul National University, Seoul Korea, 2015. 7. 16.

  96. 柴田直哉「最先端電子顕微鏡の世界-原子の直接観察、そしてその先へ-」第5回5期 フロンティアサロン講演会、ホテルニューオータニ、東京、2015. 7. 14.

  97. 柴田直哉「先進透過型電子顕微鏡法の開発と界面研究」ナノファイバー学会 第5回年次大会、東京大学、東京、2015.7.6.

  98. N. Shibata, “Direct electromagnetic field imaging in STEM using SAAF detector,” JEOL KOREA users meeting, Seoul National Univ., Seoul, Korea, 2015. 5. 28.

  99. 柴田直哉「先進STEM法の開発と材料界面研究への展開」東レリサーチセンター講演会、2015. 5. 18.

  100. 柴田直哉「先進走査型透過電子顕微鏡法の開発と材料界面研究への応用」日本顕微鏡学会第60回瀬藤賞受賞記念講演、日本顕微鏡学会第71回学術講演会、国立京都国際会館、2015. 5. 14.

  101. N. Shibata, “Direct imaging of electromagnetic fields inside materials by scanning transmission electron microscopy,” MRS 2015 Spring, San Francisco, 2015. 4. 7.

  102. 柴田直哉「先進走査透過型電子顕微鏡法の開発と材料界面研究」日本金属学会 第156回春期講演大会、東京大学駒場キャンパス、東京、2015.3.20.

  103. N. Shibata, “Development and application of new STEM detector,” KIM-JIM symposium, Kangwon Land Convention Hotel, Kangwon, Korea, 2014.10.23.

  104. N. Shibata, “Atomic-resolution scanning transmission electron microscopy with segmented annular all field detector,” Mini-symposium on TEM for atomic structure observation, Sung Kyun Kwan University, Korea, 2014.10.22.

  105. N. Shibata, “Advanced scanning transmission electron microscopy with segmented annular all field detector,” 18th international microscopy congress, Prague, Czech Republic, 2014.9.10.

  106. 柴田直哉「原子分解能STEMによる材料界面解析:最近の進展」東京工業大学応用セラミックス研究所第一回材料構造講演会, 東京、2014.8.22.

  107. N. Shibata, B. Feng, J.-Y. Roh, Y. Sato and Y. Ikuhara, “Grain boundary structure reconstruction due to vacancies and dopants in oxides,” Microscopy and Microanalysis 2014, Hartford, Connecticut, U.S.A., 2014. 8.7.

  108. N. Shibata, S.D. Findlay and Y. Ikuhara, “Atomic resolution scanning transmission electron microscopy with segmented annular all field detector,” Microscopy and Microanalysis 2014, Hartford, Connecticut, U.S.A., 2014. 8.5.

  109. N. Shibata, S.D. Findlay and Y. Ikuhara, “Polar Oxide interface characterization by differential phase contrast STEM,” Microscopy and Microanalysis 2014, Hartford, Connecticut, U.S.A., 2014. 8.5.

  110. N. Shibata, “New possibility of atomic-resolution STEM with segmented annular all field detector,” The 1st Korea-Japan Bilateral Workshop on Functional Materials Science, Hokkaido University, Hokkaido, 2014.8.1.

  111. N. Shibata, “Application of segmented annular all field detector for atomic-resolution scanning transmission electron microscopy,” EMSI 2014, Delhi University, India, 2014.7.9.

  112. N. Shibata, “Development of an advanced scanning transmission electron microscope for material science research,” Millennium Science Forum Sir Martin Wood prize Lecture, University of Cambridge, UK, 2014.6.27.

  113. N. Shibata, “Development of an advanced scanning transmission electron microscope for material science research,” Millennium Science Forum Sir Martin Wood prize Lecture, University of Oxford, UK, 2014.6.26.

  114. N. Shibata, “Development of an advanced scanning transmission electron microscope for material science research,” Millennium Science Forum Sir Martin Wood prize Lecture, University of York, UK, 2014.6.25.

  115. N. Shibata, “Development of an advanced scanning transmission electron microscope for material science research,” Millennium Science Forum Sir Martin Wood prize Lecture, Manchester University, UK, 2014.6.24.

  116. N. Shibata, “Development of an advanced scanning transmission electron microscope for material science research,” Millennium Science Forum Sir Martin Wood prize Lecture, Glasgow University, UK, 2014.6.23.

  117. 柴田直哉「原子分解能対応多分割STEM検出器の開発とその応用」日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会, 幕張メッセ、千葉、2014.5.11.

  118. 柴田直哉「収差補正STEMの進展と表面科学への応用」日本表面科学会 東北・北海道支部学術講演会、東北大学片平北門会館 2014.3.10.

  119. 柴田直哉「原子分解能多分割STEM検出器の開発とその応用」日本顕微鏡学会 関東支部第38回講演会、日本女子大学、2014.3.8.

  120. 柴田直哉「原子分解能STEMを用いたナノ機能元素解析の最前線」新学術領域「ナノ構造情報のフロンティア開拓」第一回公開シンポジウム、東京大学、2014.3.5.

  121. N. Shibata (Plenary Talk), “New insights into nanoscience through advanced transmission electron microscopy,” PIChE 75th anniversary convention, Manila hotel, Philippines, 2014.2.27.

  122. 柴田直哉「原子分解能STEMの新展開 -微分位相コントラスト法を中心として-」日本顕微鏡学会超分解能分科会 第九回研究会、八重洲ホール、東京、2014.2.24.

  123. 柴田直哉「透過電子顕微鏡による界面解析」三菱マテリアル中央研究所、茨城、2014.1.15.

  124. N. Shibata, “Direct imaging of noble metal atom adsorption on TiO2 surfaces by scanning transmission electron microscopy,” IWOX-IX, Tahoe city, CA, U.S.A., 2014.1.10.

  125. 柴田直哉「先進電子顕微鏡によるナノ構造解析」ナノ物質の高度集積化技術による新規機能性微粒子と革新的複合材料の創製研究会、科学技術交流財団、名古屋、2013.12.16.

  126. 柴田直哉「先端的走査透過電子顕微鏡の開発と物質科学研究への展開」Sir Martin Wood Prize Lecture,ミレニアムサイエンス・フォーラム, 大阪大学、2013.12.13.

  127. 柴田直哉「先端的走査透過電子顕微鏡の開発と物質科学研究への展開」Sir Martin Wood Prize Lecture,ミレニアムサイエンス・フォーラム, 東京大学、2013.12.4.

  128. N. Shibata, “Development of an advanced scanning transmission electron microscope for material science research,” 2013 Millennium Science Forum, British Embassy Tokyo, Japan, 2013.11.13.

  129. N. Shibata, S.D. Findlay and Y. Ikuhara, “Oxide interface characterization by atomic-resolution field imaging STEM,” EMMM 2013, Kyoto, Japan, 2013. 11. 20.

  130. N. Shibata,” Exploration of new detector geometries for atomic-resolution scanning transmission electron microscopy,” KIMS seminar, KIMS, Changwon, Korea, 2013.10.21.

  131. N. Shibata, “Advanced characterization of ceramic interfaces by STEM,” The 5th Asia-Oceania ceramic federation conference,” Jeju, Korea, 2013.10.17.

  132. 柴田直哉「STEMによる材料界面解析:最近の進展」JSTさきがけ「界面の構造と制御」懇話会2013、熊本大学、2013.10.12.

  133. N. Shibata, S.D. Findlay and Y. Ikuhara, “Interface characterization by advanced STEM,” FEMMS 2013, Lorne, Australia, 2013. 9. 11.

  134. 柴田直哉「原子分解能STEMの基礎と応用 -材料界面研究を中心として-」旭硝子中央研究所セミナー、2013.7.12.

  135. N. Shibata, “Atomic-resolution STEM  Basics and applications,” 112th ITDI anniversary celebration, Manila, Philippines, 2013.7.2.

  136. N. Shibata, S.D. Findlay and Y. Ikuhara, “Interface characterization by differential phase contrast STEM,” iib2013, Halkidiki, Greece, 2013.6.27.

  137. N. Shibata, “Atomic-scale characterization of ceramic interfaces by advanced transmission electron microscopy,” PACRIM 10, Coronado, U.S.A., 2013.6.6.

  138. 柴田直哉「円環状明視野および差分位相コントラストSTEM法による材料界面の研究」風戸賞受賞講演、日本顕微鏡学会第69回学術講演会、大阪、2013.5.20.

  139. 柴田直哉「多分割検出器の開発と原子分解能STEMイメージング法の開拓」新世代研究所、界面ナノ科学研究会、鎌倉、2013.2.11.

  140. 柴田直哉「STEMが明らかにするエネルギー・環境材料の構造と機能」第5回ナノ構造研究所講演会、(財)ファインセラミックスセンター、名古屋、2013.1.25.

  141. 柴田直哉「原子分解能走査型透過電子顕微鏡法の新しい展開」分子研研究会「無機化学の現状と未来」自然科学研究機構、 分子科学研究所、2013.1.18.

  142. 柴田直哉「多分割検出器の開発と原子分解能STEMへの応用」日本学術振興会 荷電粒子ビームの工業への応用 第132委員会 第203回研究会(東京)2012.12.14.

  143. N. Shibata, S.D. Findlay and Y. Ikuhara, “Novel atomic-resolution STEM for interface characterization, “ ICEAN 2012, Brisbane, Australia, 2012.10.22.

  144. N. Shibata, “Novel atomic-resolution scanning transmission electron microscopy imaging using a “segmented annular all field detector,” Monash University Seminar, Melbourne, 2012. 10.19.

  145. 柴田直哉、S.D. Findlay, 幾原雄一「多分割検出器による原子分解能STEMの新展開」日本金属学会中国四国支部 第113回金属物性研究会、島根大学、2012.9.28.

  146. N. Shibata, S.D. Findlay, Y. Ikuhara, "Novel atomic-resolution STEM imaging by segmented annular all field detector," IUMRS-ICEM 2012, Yokohama, 2012.9.25.

  147. 柴田直哉、S.D. Findlay, 幾原雄一「多分割検出STEM法のセラミック材料解析への応用」日本セラミックス協会 第25回秋季シンポジウム、名古屋大学、2012.9.21.

  148. 柴田直哉「先進STEM法を用いたセラミックス界面研究」第44回東海若手セラミスト懇話会 夏季セミナー、浜松、2012. 6. 28.

  149. N. Shibata, S.D. Findlay, Y. Ikuhara, "Novel atomic-scale characterization of ceramic interfaces by advanced electron microscopy," NIMS conference 2012, Tsukuba, 2012.6.6.

  150. 柴田直哉、S.D. Findlay、幾原雄一「多分割検出によるSTEMの新展開」日本顕微鏡学会 第68回学術講演会、筑波、2012.5.14.

  151. N. Shibata, Plenary talk, "Atomic-scale characterization of materials by aberration-corrected STEM," MICROSPHIL 2012, Manila, Philippines, 2012.3.29.

  152. 柴田直哉「セラミックス界面の3次元原子構造解析」平成23年度マテリアル電子線トモグラフィ研究部会、日本顕微鏡学会、工学院大学、東京、2011.12.16.

  153. 柴田直哉「先進STEM法を用いたセラミック材料研究」第4回TEMユーザーズミーティング、日本電子株式会社、東京大学、2011.12.2.

  154. N. Shibata, S.D. Findlay, T. Mizoguchi and Y. Ikuhara, "Direct imaging of individual dopant atoms in buried crystalline interfaces," 2011 MRS Fall meeting, Boston, 2011.11.28.

  155. 柴田直哉「セラミック材料の粒界・界面構造研究」第2回構造材料国際クラスターシンポジウム、物質・材料研究機構(筑波)、2011.11.22.

  156. 柴田直哉「アルミナ中の転位および粒界の原子構造解析」日本学術振興会 材料の微細組織と機能性第133委員会 第211回研究会(東京理科大学)、2011.10.21.

  157. 柴田直哉「多分割検出による原子分解能STEMの新しい展開」第27回分析電顕討論会、幕張メッセ、2011.9.6.

  158. N. Shibata, S.D. Findlay and Y. Ikuhara, " Novel atomic resolution scanning transmission electron microscopy for oxide interface characterization," IMRCXX 2011, Cancun, Mexico, 2011.8.15.

  159. N. Shibata, S.D. Findlay and Y. Ikuhara, "Novel atomic resolution scanning transmission electron microscopy for oxide materials," ISAF-PFM, Vancouver, 2011.7.27.

  160. N. Shibata, S.D. Findlay, T. Mizoguchi, K. Matsunaga, T. Yamamoto and Y. Ikuhara, "Atomic-scale modeling of ceramic interfaces by aberration-corrected STEM and first-principles calculations," 35th international conference and exposition on advanced ceramics and composites, Florida, 2011. 1.27.

  161. N. Shibata, Y. Sato, T. Mizoguchi, T. Yamamoto and Y. Ikuhara, "Atomic structure, segregation and properties of ceramic interfaces, " 3rd international congress on ceramics (ICC3), Osaka, 2010. 11. 17.

  162. N. Shibata, "Nanostructure characterization using aberration corrected STEM," The 4th ICNSEE Nano-interface Characterization Group Seminar, NIMS, Tsukuba, 2010.10.6.

  163. N. Shibata, " Atomic-Scale Characterization of Surfaces and Interfaces by Aberration-Corrected STEM," Frontiers in Nanoscience and Technology, JAIST, Ishikawa, 2010.9.9.

  164. 柴田直哉「収差補正STEMによる界面解析の新展開」日本顕微鏡学会 電顕技術開発若手研究部会 第2回ワークショップ、東京、2010.8.23.

  165. N. Shibata, Y. Sato, S.D. Findlay, T. Mizoguchi, T. Yamamoto and Y. Ikuhara, " Atomic Structures and Properties of Ceramic Interfaces - Combination of Cs-corrected STEM and First-principles Calculations -," Microscopy and Microanalysis 2010, Portland, Oregon, 2010.8.4.

  166. 柴田直哉、S.D. Findlay、溝口照康、山本剛久、幾原雄一「収差補正STEMによる界面研究の新展開」2009年度NIMSナノ計測センターシンポジウム 先端電子顕微鏡手法に関するシンポジウム -新しい結像法と新しい分光法-(筑波)2010. 2. 5

  167. N. Shibata, S.D. Findlay, A. Goto, T. Mizoguchi, K. Matsunaga, T. Yamamoto and Y. Ikuhara, " Atomic-scale imaging of surfaces and interfaces in TiO2 based materials using aberration-corrected scanning transmission electron microscopy," 7th International Workshop on Oxide Surfaces (IWOX-VII) Echigo-Yuzawa, Japan, 2010.1.14.

  168. N. Shibata, S.D. Findlay, T. Mizoguchi, A. Goto, S. Azuma, K. Matsunaga, T. Yamamoto and Y. Ikuhara, "Atomic-scale imaging of surfaces and interfaces by aberration-corrected STEM," FEMMS 2009, Huis Ten Bosch (Sasebo), September 28 2009.

  169. 柴田直哉、S.D. Findlay、東慎也、後藤明、溝口照康、山本剛久、松永克志、幾原雄一「収差補正STEMによるセラミック界面・表面の原子構造解析」日本セラミックス協会第22回秋季シンポジウム(愛媛大学)2009.9.17.

  170. 柴田直哉、溝口照康、幾原雄一「超高分解能STEMとEELSによるナノ界面研究」第56回応用物理関係連合講演会、筑波大学, 2009.3.31.

  171. 柴田直哉「金チタニア触媒界面の原子構造」日本学術振興会 先進セラミックス第124委員会、第129回会議(東京)2008.9.30.

  172. 柴田直哉、幾原雄一「収差補正STEMによる結晶界面の原子構造解析」日本顕微鏡学会 第64回学術講演会, 京都2008.5.22.

  173. 柴田直哉、幾原雄一、「界面機能元素の超高分解能STEM観察」特定領域研究 機能元素のナノ材料科学 第一回公開シンポジウム、東京、2008.3.6.

  174. 柴田直哉、「原子スケールからのセラミック材料学-先進電子顕微鏡によるアプローチ-」崇城大学セミナー,2007.12.7.

  175. 柴田直哉、幾原雄一「STEMによる材料界面ドーパント原子の直接観察と機能設計」日本顕微鏡学会関西支部 分子科学研究所ナノフォーラム、岡崎、2007.7.31

  176. 柴田直哉、幾原雄一「超高分解能STEMによるセラミックス界面の原子構造解析」日本顕微鏡学会 第63回学術講演会, 2007.5.20.

  177. N. Shibata and Y. Ikuhara, “STEM characterization of atomic structures and chemistry of ceramic interfaces,” Engineering Ceramics 2007, Slovakia, 2007.5.8.

  178. 柴田直哉、幾原雄一「収差補正STEMによるセラミックス粒界の研究」日本顕微鏡学会 超高分解能電子顕微鏡分科会 第2回講演会 収差補正顕微鏡によるナノサイエンス新展開 2007.2.22

  179. 柴田直哉、幾原雄一「収差補正STEMのセラミックスへの応用」東京大学・日本電子産学連携室開設一周年記念講演会, 2007. 1. 23.

  180. 柴田直哉「原子分解能STEMの基礎と応用」電子顕微鏡解析技術フォーラム、滋賀、2006.10.6.

  181. 柴田直哉「Cs補正STEMによる材料研究の新しい展開」JEOLセミナー, 2006.5.19.

  182. 柴田直哉「セラミックス粒界の超高分解能観察」その場・高分解能・分析電子顕微鏡による解析支援 平成17年度 ユーザー会議(つくば・物質・材料研究機構)2006.2.28

  183. N. Shibata and Y. Ikuhara, “Grain boundary atomic structures and dopant effects of oxide ceramics,” 30th International conference and exposition on advanced ceramics and composites, Cocoa Beach, Florida, U.S.A., 2006.1.25.

  184. 柴田直哉「窒化ケイ素粒界のSTEM観察-新たな展開-」日本学術振興会 先進セラミックス第124委員会、第120回会議(浜松)2005.11.22.

  185. N. Shibata, G.S. Painter, P.F. Becher and S.J. Pennycook, “Z-contrast STEM study of intergranular amorphous phases in Si3N4 ceramics,” FEMMS 2005, Kasteel Vaalsbroek, Netherlands, Sep. 27, 2005.

  186. Y. Ikuhara and N. Shibata, “Atomic structures, chemistry and properties in ceramic interfaces,” FEMMS 2005, Kasteel Vaalsbroek, Netherlands, Sep. 30, 2005.

  187. 柴田直哉「収差補正STEM法によるセラミック界面の原子構造解析」第15回格子欠陥フォーラム・日本物理学会格子欠陥分科(滋賀)2005.9.23.

  188. N. Shibata, G.S. Painter, S.J. Pennycook and P.F. Becher, “Z-contrast STEM imaging of rare-earths’ behaviours at crystal intergranular interfaces in Si3N4 ceramics,” The American Ceramic Society 107th annual meeting and exposition, Baltimore, U.S.A., Apr. 13, 2005.

  189. 柴田直哉「収差補正STEMによるセラミックス界面の局所構造解析」COEセミナー(大阪大学) 2005. 1. 28.

  190. 柴田直哉「収差補正STEMを用いたセラミックス界面の局所構造解析」第137回HVEM研究会(九州大学)2004. 12. 10.

  191. N. Shibata, Y. Ikuhara, T. Yamamoto and T. Sakuma, “Grain Boundary Structures in Zirconia Bicrystals,” PAC RIM4 An International Conference on Advanced Ceramics and Glasses, Maui, U.S.A., Nov. 7, 2001.

  192. N. Shibata, T. Yamamoto, Y. Ikuhara and T. Sakuma, ”Grain growth characteristics in BaTiO3,” Sintering ’99, Penn State, (Pennsylvania, U.S.A.), Nov. 2, 1999.

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